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美国PSS纳米粒度分析仪ZETA电位分析仪:科研级胶体检测仪

2025年12月15日


美国PSS Nicomp Z3000系列纳米粒度分析仪是一款集成了动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)技术的先进分析仪器,专为纳米材料研发和胶体体系研究而设计。该仪器采用军用级雪崩光电二极管检测器(APD),灵敏度比传统光电倍增管(PMT)高出3-5倍,为科研工作者提供了前所未有的检测精度。

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核心技术特点:

1. 超宽检测范围:粒径检测覆盖0.3nm-10μm,ZETA电位测量范围达±500mV

2. 多算法分析系统:同时采用Gaussian单峰算法和专利Nicomp多峰算法,特别适合多组分、不均匀分散体系的分析

3. 高精度温控系统:温控精度±0.1℃,温度范围0℃-90℃,确保测试条件稳定

4. 智能软件平台:符合21CFR Part 11规范,具备自动数据校准、异常值剔除功能,支持Excel导出

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创新功能模块:

自动稀释系统可直接处理固含量高达50%的原样,避免人工稀释误差

多角度检测系统(选配)15°-175°可调检测角度,提供更高分辨率的粒径分布数据

自动滴定模块(选配)与瑞士万通滴定仪联用,实现pH值自动调节和Zeta电位精确测定


操作体验优势:

实际测试表明,该仪器测量Zeta电位的重复性偏差可控制在2mV以内,单次测试时间仅需15分钟,相比传统仪器效率提升50%。其专用石英玻璃样品池设计配合35mW大功率激光光源,即使对低浓度样品也能获得稳定信号。测试完成后,系统自动生成包含平均值、标准差和分布图谱的完整报告,大大节省数据处理时间。

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维护保养提示:


   建议使用后立即用无水乙醇清洗样品池,避免样品残留;定期使用标准乳胶球进行校准;测试前确保样品温度与室温平衡。这些措施可保证仪器长期保持最佳工作状态。

   作为纳米材料研发领域的专业设备,美国PSS Z3000系列以其卓越的测试精度、高效的工作流程和可靠的数据质量,已成为众多科研院所和企业实验室的首选分析工具。

 

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